Лаборатория сканирующей атомно-силовой микроскопии в составе 4х зондовых сканирующих микроскопов «СММ-2000», 1го атомно-силового микроскопа Aris3300

Атомно-силовой микроскоп — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения.
Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.
Принцип работы атомно-силового микроскопа основан на регистрации силового взаимодействия между поверхностью исследуемого образца и зондом.
В качестве зонда используется наноразмерное остриё, располагающееся на конце упругой консоли, называемой кантилевером. Сила, действующая на зонд со стороны поверхности, приводит к изгибу консоли.
Появление возвышенностей или впадин под остриём приводит к изменению силы, действующей на зонд, а значит, и изменению величины изгиба кантилевера. Таким образом, регистрируя величину изгиба, можно сделать вывод о рельефе поверхности.

Разработка 2000 года, режимы СТМ (разрешение 3 Å) и АСМ (высокоразрешающий мягкий контактный режим, до 0.1 Å по вертикали).
Кадры до 15/15/2 или 40/40/3 мкм, двигатели для выбора точки сканирования на поле 6/6 мм с просмотром в оптическом микроскопе МБС-10, смена СТМ/АСМ режимов без вынимания образца, встроенная виброподвеска (-60дб), возможности для дополнительных методик, габариты 155/155/105 мм, вес 5 кг.