Страна: Дифрактометр Kristalloflex Siemens 5000
Изготовитель: Siemens
Марка: Kristalloflex Siemens 5000
Год: 1998
Адрес размещения: ул.Университетская, 10, каб. 100
Ответственный за установку: старший преподаватель кафедры электроники и электроэнергетики, к.ф.-м.н., Игнахин Владимир Станиславович, телефон: (8142) 719681
Для проведения исследований состава веществ, структурных характеристик, анализа степени чистоты, качественный анализа фазового состава тонкопленочных стурктур и нановолокон оксидов переходных металлов (ванадия, цинка, ниобия).
Описание установки:
Анод: Cu-K & alpha (л = 0,1540562 нм)
Kβ фильтр: Ni фильтр
Генератор рентгеновского излучения: Kristalloflex 710 (Мощность: 2 кВт, HT напряжение: 20-50V, ток: 5-40mA)
Детектор: сцинтилляционный счетчик
Ширина луча: ~ 12 мм
Измерение диаметр круга: 401мм
Угловой диапазон: θ и 2θ = 360 ° (без аксессуаров), -100 ° <2θ <+ 168 ° (со стандартными аксессуарами)
Программное обеспечение: Diffrac Plus Basic