Страна: США
Изготовитель: Hewlett-Packard
Марка: 8015A
Год: 2012
Адрес размещения: ул.Университетская, 10, каб. 106
Ответственный за установку: старший преподаватель кафедры электроники и электроэнергетики, к.ф.-м.н., Игнахин Владимир Станиславович, телефон: (8142) 719681
Спектрометр позволяет измерять на любом локальном участке магнитной пленки величину и направление поля анизотропии, намагниченность насыщения, константу магнитострикции, резонансное поле и ширину линии ФМР на выбранной частоте рабочего диапазона.
Степень локальности измерений - в пределах 0.3-2.5 мм, и определяется диаметром измерительного отверстия СВЧ датчика.
Спектрометр имеет набор сменных измерительных головок, перекрывающих диапазон частот 0.1-5.0 ГГц, со встроенными датчиком и СВЧ генератором.
Отношение сигнал/шум головок, измерянное для пермаллоевой пленки толщиной 10 нм, не менее 10.
Для работы со слабыми сигналами, например в случае очень тонких магнитных пленок (толщиной менее 10 нм), предусмотрена возможность накопления сигнала.