Текстурный Дифрактометр Philips Analytical Systems со структурным гониометром Huber 4020

• определение магнитной и кристаллической структур (т.е. положение атомов и направление их магнитных моментов);
• определение магнитных фазовых диаграмм;
• изучение анизотропии смещения атомов при изменении температуры.

При реализации фокусировки по Брэггу-Брентано выполняются повороты образца вокруг главной оси гониометра, сечение набора дебаевских конусов дифракции регистрируется плоскостью гониометра.

Приставка к дифрактометру позволяет решать многие задачи при исследованиях кристаллографической текстуры, совершенства монокристаллов, оценке микронапряжений.

Рентгеновский дифрактометр PANalytical предназначен для получения дифрактометрических данных высокого качества.

Оснащен модулями PreFIX (предварительно юстированные быстрозаменяемые рентгеновские модули), благодаря которым можно без труда менять оптическую схему.