Стенд для функционального тестирования образцов ИМСП

Экспериментальный стенд для функционального тестирования (СФТ) интегральных микросхем памяти (ИМСП) представляет собой модульный стенд для тестирования образцов корпусных микросхем NAND памяти типа BGA (152 вывода 14х18 мм). Стенд предназначен для тестирования на разрывы и замыкания сигнальных линий ИМСП, а также функционального тестирования ИМСП. СФТ выполняет необходимые процедуры обращения к ИМСП согласно методам испытаний, включающий определение наличия обрывов и замыканий, проверку выполнения операций чтения, записи и стирания, оценку временных параметров, в том числе при повышенных и пониженных температурах. СФТ представляет собой модульную систему, состоящую из блоков тестирования, в свою очередь которые состоят из блоков контроля. Блоки контроля включают микроконтроллер, программируемую логическую интегральную схему, программный модуль, и оборудованы разъёмными соединителями (sockets), позволяющими производить монтаж и демонтаж ИМСП без пайки и специального инструмента. СФТ поддерживает интерфейсы взаимодействия с NAND памятью по протоколу ONFI 3.2.